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日本三豐525系列表面粗糙度輪廓形狀測量機

簡要描述:日本三豐525系列表面粗糙度輪廓形狀測量機 SV-C4500 CNC
通過更換檢出器可實現輪廓形狀測量和表面粗糙度的高精度接觸式CNC表面粗糙度/輪廓測量系統。

  • 產品型號:SV-C4500 CNC
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2026-06-04
  • 訪  問  量:6529

詳細介紹

品牌MITUTOYO/日本三豐價格區間100萬-200萬
產品種類接觸式輪廓儀/粗糙度儀產地類別進口
應用領域電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣

日本三豐525系列表面粗糙度輪廓形狀測量機 SV-C4500 CNC

測定范圍 X軸(mm) : 200

測定范圍 Y軸(mm) : 200

測定范圍 Z1軸 表面粗糙度(µm) : 800,80,8

測定范圍 Z1軸 長度形狀(mm) : 60(水平狀態下±30)

輪廓形狀測定和表面粗糙度測定通過更換檢測器即可在一臺設備上完成的CNC形狀復合機種。

日本三豐525系列表面粗糙度輪廓形狀測量機

日本三豐525系列表面粗糙度輪廓形狀測量機 SV-C4500 CNC

主要特點

  • 通過檢測器的更換,這臺高精度觸針式CNC表面粗糙度和輪廓形狀測量機可以一臺測量表面粗糙度和輪廓形狀。
  • 【輪廓形狀測定】配備了升級的新檢測器(輪廓形狀測量專用)。①測量范圍擴大了10mm(比以前)。②采用磁性接頭安裝在臂部安裝部,使得臂部更換可以快速進行。③通過與雙側圓弧規的組合,可以實現上下表面的連續測量。④ 測定力從數據處理裝置部(FORMTRACEPAK)中指定(5段階)
  • 【表面粗糙度測量】JIS(2001/1994/1982)、ISO、DIN等各國的規格對應了參數解析。Z1軸檢測器的標準設置為測量力0.75mN的類型。
  • X1?(Y)?Z2軸的最大驅動速度為最大200mm/s,可以實現高速定位,從而實現多截面測量和多工件測量的高吞吐量。
  • X?Y軸方向的2軸同時控制可以進行傾斜測量。
  • 由于測量區域在Y方向上擴展,因此可以實現多個工件的批量測量。


規格

符號SV-C4500CNC(Z2軸類型S)SV-C4500S CNC(帶α軸,Z2軸類型S)SV-C4500CNC(Z2軸類型H)SV-C4500H CNC(帶α軸,Z2軸類型H)
測定范圍 X軸(mm)
200
200
200
200
測定范圍 Y軸(mm)
200
200
200
200
驅動速度 J/S mode X軸(mm/s)
0~50
0~50
0~50
0~50
驅動速度 J/S mode Y軸(mm/s)
0~50
0~50
0~50
0~50
驅動速度 J/S mode Z2軸(mm/s)
0~50
0~50
0~50
0~50
測定范圍 Z1軸 表面粗糙度(µm)
800,80,8
800,80,8
800,80,8
800,80,8
分解能 X軸(µm)
0.05
0.05
0.05
0.05
分解能 Z1軸 表面粗糙度(µm)
0.01/0.001/0.0001
0.01/0.001/0.0001
0.01/0.001/0.0001
0.01/0.001/0.0001
分解能 Z2軸 (µm)
0.05
0.05
0.05
0.05
測定方向 表面粗さ
引方向
引方向
引方向
引方向
測定面方向 表面粗さ
下方向
下方向
下方向
下方向
驅動速度 CNC模式 X軸(mm/s)
最大200
最大200
最大200
最大200
測定范圍 Z1軸 輪廓形狀(mm)
60(水平狀態±30)
60(水平狀態±30)
60(水平狀態±30)
60(水平狀態±30)
驅動范圍 Z2軸(mm)
300
300
500
500
測定方向 輪廓形狀
推拉雙向
推拉雙向
推拉雙向
推拉雙向
測定面方向 輪廓形狀
上下両方向
上下両方向
上下両方向
上下両方向
分解能 Z1軸 標準(µm)
0.02
0.02
0.02
0.02
分解能 Z1軸 非接觸(µm)
25
25
25
25
驅動速度 CNC模式 Y軸(mm/s)
最大200
最大200
最大200
最大200
驅動速度 CNC模式 Z2軸 (mm/s)
最大200
最大200
最大200
最大200
X軸測量速度(mm/s)
0.02~2
0.02~2
0.02~2
0.02~2
筆尖形狀 表面粗糙度
60°, R2 µm
60°, R2µm
60°, R2 µm
60°, R2 µm
筆尖形狀 輪廓形狀
圓錐30°
圓錐30°
圓錐30°
圓錐30°
真直精度 X軸 表面粗糙度
0.5 微米/200 毫米
0.5微米/200毫米
0.5 微米/200 毫米
0.5 微米/200 毫米
真直精度 X軸 非接觸
0.5 微米/200 毫米
0.5微米/200毫米
0.5 微米/200 毫米
0.5 微米/200 毫米
真直精度 Y軸 表面粗糙度
0.5 微米/200 毫米
0.5微米/200毫米
0.5 微米/200 毫米
0.5 微米/200 毫米
真直精度 X軸 輪廓形狀
2 微米/200 毫米
2μm/200mm
2 微米/200 毫米
2 微米/200 毫米
真直精度 Y軸 輪廓形狀
2 微米/200 毫米
2μm/200mm
2 微米/200 毫米
2 微米/200 毫米
指示精度 X軸 輪廓形狀
±(0.8+4L/200) μm L:測定長度(mm)
±(0.8+4L/200)μm L: 測定長度(mm)
±(0.8+4L/200) μm L:測定長度(mm)
±(0.8+4L/200) μm  L: 測定長度(mm)
指示精度 Y軸
±(2+2L/100) μm L:任意2點間尺寸(mm)
±(2+2L/100)μm L:任意2點間尺寸(mm)
±(2+2L/100) μm L:任意2點間尺寸(mm)
±(2+2L/100) μm L:任意2點間尺寸(mm)
指示精度 Z1軸 輪廓形狀
±(0.8+|2H| /100) μm H:水平位置からの測定高さ(mm)
±(0.8+|2H| /100)μm H: 水平位置からの測定高さ(mm)
±(0.8+|2H| /100) μm H:水平位置からの測定高さ(mm)
±(0.8+|2H| /100) μm H:水平位置からの測定高さ(mm)
指示精度 Z2軸
α軸無機種 ±(1.5+10H/1000) μm H:Z2軸測量高度(mm) 
α軸無機種 ±(1.5+10H/1000)μm H: Z2軸測量高度(mm) 
α軸無機種 ±(1.5+10H/1000) μm H:Z2軸測量高度(mm) 
α軸無機種 ±(1.5+10H/1000) μm H:Z2軸測量高度(mm)
測定力 表面粗糙度(mN)
0.75
0.75
0.75
0.75
測長單元 X軸
反射型線性編碼器
反射型線性編碼器
反射型線性編碼器
反射型線性編碼器
測長單元 Y軸
反射型線性編碼器
反射型線性編碼器
反射型線性編碼器
反射型線性編碼器
測長單元 Z2軸
反射型線性編碼器
反射型線性編碼器
反射型線性編碼器
反射型線性編碼器
最大積載質量 Y軸平臺(kg)
20
20
20
20
測長單元 Z1軸
圓弧刻度
圓弧刻度
圓弧刻度
圓弧刻度
筆尖上下移動
圓弧運動
圓弧運動
圓弧運動
圓弧運動
追隨角度 登り(°)
70
70
70
70
追隨角度 下行(°)
70
70
70
70
測定力 輪廓形狀(mN)
10,20,30,40,50
10,20,30,40,50
10,20,30,40,50
10,20,30,40,50
通信接口
通用串行總線
通用串行總線
通用串行總線
通用串行總線
底座材質
漢雷巖
漢雷巖
漢雷巖
漢雷巖
筆尖材質 輪廓形狀
超硬合金
超硬合金
超硬合金
超硬合金
保存環境溫度范圍(℃)
-10~50
-10~50
-10~50
-10~50
保存環境濕度范圍(非結露)(%RH)
5~90
5~90
5~90
5~90
使用環境溫度范圍(℃)
15~25
15~25
15~25
15~25
使用環境濕度范圍(非結露)(%RH)
20~80
20~80
20~80
20~80
底座尺寸(mm)
750×600
750×600
750×600
750×600
Y軸表格(mm)
200×200
200×200
200×200
200×200
Y軸臺 質量(kg)
35
35
35
35
遙控盒(mm)
300×143×71
300×143×71
300×143×71
300×143×71
遠程盒子 質量(kg)
1.5
1.5
1.5
1.5
本體(mm)
800×620×1000(不包括Y軸工作臺及減震臺)
800×620×1000(不包括Y軸工作臺及減震臺)
800×620×1200(不包括Y軸工作臺及減震臺)
800×620×1200(不包括Y軸工作臺及減震臺)
本體質量(kg)
240
240
250
250
電源
100~120V、200~240V ±10%、AC50/60Hz
100~120 V、200~240 V ±10 %、交流 50/60 Hz
100~120 V、200~240 V ±10 %、交流 50/60 Hz
100~120 V、200~240 V ±10 %、交流 50/60 Hz
消耗電力
500 瓦
500 瓦
500 瓦
500 瓦
傾斜回轉速度(rpm)

1

1
傾斜角度分解能(°)

0.000225

0.000225
X軸傾斜角度(°)

-45(逆時針)、+10(順時針)

-45(逆時針)、+10(順時針)
α軸部 質量(kg)

9

9



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